哲为申请太阳能硅片视觉检测专利，提高了硅片缺陷检测的准确性、稳定性和生产良率

金融界2025年5月5日消息，国家知识产权局信息显示，哲为（上海）科技有限公司申请一项名为“太阳能硅片视觉检测方法”的专利，公开号CN119915737A，申请日期为2025年4月。

专利摘要显示，本发明公开了太阳能硅片视觉检测方法，具体涉及硅片检测技术领域；通过获取不同入射角度的光学图像，并同步采集红外透射图像，对采集的多角度图像进行归一化处理、边缘增强滤波和自适应阈值分割，提取疑似裂纹区域，分别计算灰度梯度变化率和应力异常程度，通过加权评分方法综合灰度梯度变化率与应力异常程度，计算裂纹可信度评分，并与预设裂纹检测阈值进行比较，以区分真实隐裂与应力伪缺陷；若可信度评分低于阈值，则通过调整光照角度进行二次采样，进一步优化判定结果；本发明有效减少了因晶格应力伪缺陷误判导致的误剔率，同时避免了真实隐裂的漏检，提高了硅片缺陷检测的准确性、稳定性和生产良率，从而增强光伏组件的长期可靠性。

天眼查资料显示，哲为（上海）科技有限公司，成立于2012年，位于上海市，是一家以从事专业技术服务业为主的企业。企业注册资本500万人民币。通过天眼查大数据分析，哲为（上海）科技有限公司参与招投标项目3次，财产线索方面有商标信息3条，专利信息33条，此外企业还拥有行政许可2个。

本文源自：金融界

作者：情报员